光电芯片的S参数测试

基于现代高速光传输网络中系统来说，光电芯片毫无疑问是其中的核心器件。无论是电-光器件（电光调制器、直接调制激光器、光发射组件）还是光-电器件（PIN光电探测器、APD光电探测器、光接收组件）芯片来说，S参数的测试是必不可少的。
 

在之前的文章中，我们简单介绍了硅光芯片S参数的校准与测试流程。以下我们介绍部分电-光/光-芯片的S参数测试项目。
 

电-光器件S参数测试
 

图1 EML激光器芯片S参数测试
 

针对电光调制芯片、DML/EML激光器芯片等电光器件来说，可通过光波元件通过自身发射高速调制电信号，接收对应电-光芯片的高速光信号这一过程，进行S11参数和S21参数的测试。通过多窗口对比分析，获取测试对象的各频点反射和传输特性。
 

图2 电-光器件频响测试
 

光-电器件S参数测试
 

图3 APD光电芯片S参数测试
 

针对PIN光电探测器芯片、APD光电探测器芯片、光接收组件等光电器件，光波元件分析仪通过发射高速光信号，接收对应光-电芯片的电信号来进行S21参数，频率响应测试，3dB带宽等传输特性。
 

图4 光-电器件频响测试
 

光电芯片测试是一项复杂工程，不同产品的测试方案不同。如您对光电芯片的测试感兴趣，欢迎与我们联系，我们将根据您的测试需求定制测试方案