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Hintergrund
der Erfindung
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Die
vorliegenden Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Steigerung
der Adhäsion
eines polymeren Materials an einer Kupferoberfläche und eine für ein solches
Verfahren geeignete Zusammensetzung. Die vorliegende Erfindung bezieht
sich insbesondere auf die Herstellung von Leiterplatten und ganz
besonders auf ein Verfahren zur Herstellung einer mehrschichtigen
Leiterplatte.
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Eine
oder mehrere innere Schaltkreisschichten enthaltende Leiterplatten
finden heute eine bedeutende Anwendung, da die Forderung nach einer
immer weiteren Gewichts- und Platzeinsparung in elektronischen Baugruppen
zunimmt.
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Bei
einer typischen Herstellung einer mehrschichtigen Leiterplatte werden
zunächst
mit Schaltkreisen bedruckte innere Schichten durch ein Verfahren
hergestellt, bei dem ein mit Kupferfolie kaschiertes Substratmaterial
mit Abdecklack zu einer positiven Abbildung des gewünschten
Schaltkreismusters bedruckt wird und anschließend das bloßgelegte
Kupfer weggeätzt
wird. Nach dem Entfernen des Abdecklackes bleibt das gewünschte Kupferschaltkreismuster
erhalten.
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Eine
oder mehrere innere Schaltkreisschichten irgendeines besonderen
Typs oder besonderer Arten von Schaltkreismustern ebenso wie innere
Schaltkreisschichten, die Grundplatten und Leistungsplatten darstellen
sollen, werden durch Einfügen
einer oder mehrerer partiell gehärteten
Schichten eines dielektrischen Substratmaterials (sogenannte „pre-preg"-Schichten) zwischen den inneren Schaltkreisschichten
zusammen gefügt,
um eine alternierende Zusammensetzung aus inneren Schaltkreisschichten
und dielektrischem Substratmaterial zu bilden. Die Zusammensetzung
wird dann einer Erwärmung
und Druck ausgesetzt, um das partiell gehärtete Substratmaterial zu härten und
eine Bindung der inneren Schaltkreisschichten darauf zu erhalten.
Die so gehärtete
Zusammensetzung weist eine Vielzahl von aufgebohrten Durchlässen auf,
die dann metallisiert werden, um einen Träger für eine leitende Verknüpfung sämtlicher
Schaltkreisschichten zur Verfügung zu
stellen. Im Laufe des Verfahrens der Metallisierung der Durchlässe werden
die gewünschten
Schaltkreismuster typischerweise auch auf den nach außen zeigenden
Schichten der mehrschichtigen Zusammensetzung gebildet.
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Eine
alternative Vorgehensweise zur Bildung eines mehrschichtigen Leiterplatte
beruht auf additiven oder oberflächigen
Schaltkreistechniken. Diese Techniken beginnen mit einem nichtleitenden
Substrat, auf das die Schaltkreiselemente additiv metallisiert werden.
weitere Schichten werden durch wiederholtes Aufbringen einer bedruckbaren
Beschichtung auf den Schaltkreis und das Metallisierung weiterer
Schaltkreiselemente auf der bedruckbaren Beschichtung erhalten.
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Es
ist seit langem bekannt, dass die Festigkeit der ausgebildeten Adhäsionsbindung
zwischen Kupfermetall der inneren Schaltkreisschichten und den gehärteten Pre-preg-Schichten
oder anderen damit in Kontakt stehenden nichtleitenden Beschichtungen
einiges zu wünschen übrig lässt, mit
dem Ergebnis, dass die gehärtete
mehrschichtige Zusammensetzung oder die Beschichtung bei der nachfolgenden
Verarbeitung und/oder der Benutzung zum Abblättern neigt. Zur Lösung dieses
Problems haben die Fachleute die Technik entwickelt, auf Kupferoberflächen der
inneren Schaltkreisschichten (bevor diese mit Pre-preg-Schichten zu
einer mehrschichtigen Zusammensetzung zusammengefügt werden)
eine Schicht aus Kupferoxid auszubilden, wie beispielsweise durch
chemische Oxidation der Kupferoberflächen. Die ersten Bemühungen in
dieser Hinsicht (sogenannte „Schwarzoxid"-Adhäsionsverbesserer)
ergaben irgendeine minimale Verbesserung der Bindung der inneren
Schaltkreisschichten mit den dielektrischen Substratschichten in
dem endgültigen
mehrschichtigen Schaltkreis im Vergleich zu der, die ohne die Verwendung
von Kupferoxid, erhalten wurde. Nachfolgende Abänderungen der Schwarzoxidtechnik
umfassten Verfahren, wobei zunächst
eine Beschichtung mit Schwarzoxid auf der Kupferoberfläche hergestellt
wird und nachfolgend der Schwarzoxidbelag mit 15%iger Schwefelsäure behandelt
wird, um ein „Rotoxid" herzustellen, das
als Adhäsionsverbesserer
dient, wie es von A.G. Osborne, „An Alternate Route To Red
Oxide For Inner Layers",
PC Fab. August, 1984 beschrieben wird, ebenso wie Abänderungen,
die die direkte Bildung eines Rotoxid-Adhäsionsverbesserers
umfassen, wobei ein wechselndes Ausmaß an Erfolg erzielt wurde.
Die bemerkenswerteste Verbesserung auf diesem Gebiet wird in den US-Patentschriften
Nos. 4,409,037 und 4,844,981 von Landau, auf deren Lehre in ihrer
Gesamtheit hier Bezug genommen wird und die Oxide beinhalten, die
aus relativ hoch-chlorithaltigen und relativ wenig kaustischen Kupfer
enthaltenden Verbindungen gebildet werden, und wesentlich verbesserte
Ergebnisse für
die Adhäsion bei
Schaltkreiszwischenschichten liefern.
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Wie
vorher erwähnt,
ist die zusammengesetzte und ausgehärtete mehrschichtige Schaltkreiszusammensetzung
mit Durchlässen
ausgerüstet,
die anschließend
eine Metallisierung erfordern, um als Träger für die leitende Verknüpfung der
Schaltkreisschichten des Schaltkreises zu dienen. Die Metallisierung
der Durchlässe
umfasst die Schritte des Entölens
der Durchlassoberflächen,
der katalytischen Aktivierung, der stromlosen Kupferabscheidung
und der elektrolytischen Kupferabscheidung. Viele dieser Verfahrensschritte
umfassen die Verwendung von Hilfsmitteln, wie z.B. Säuren, die
in der Lage sind, die Beschich tung mit dem Adhäsionsverbesserer aus Kupferoxid
in Bereichen der inneren Schaltkreisschichten, die mit dem Durchlass
in Verbindung stehen oder in seiner Nähe sind, aufzulösen. Die örtliche
Auflösung
des Kupferoxids, welche durch die Bildung eines rosafarbenen Rings
oder Schleiers um den Durchlass herum angezeigt wird (rührt her
von der roten Farbe der darunter liegenden Kupfermetallschicht,
die dadurch aufgedeckt wird), kann beim Betrieb zu örtlichen
Ablösungen
im mehrschichtigen Schaltkreis führen.
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Die
Fachleute sind sich des „rosa
Ring"-Phänomens sehr
wohl bewusst und haben außerordentliche Anstrengungen
unternommen bei der Suche, zu einem Verfahren zur Herstellung eines
mehrschichtigen Schaltkreises zu gelangen, das nicht anfällig für solchen örtlichen
Ablösungen
ist. Eine vorgeschlagene Lösung
bestand darin, das Kupferoxid zur Verbesserung der Adhäsion als
eine dicke Beschichtung zur Verfügung zu
stellen, um auf diese Weise bei der nachfolgenden Verarbeitung die
Auflösung
einfach durch die Wirkung der bloßen Menge des vorhandenen Kupfers
zu verlangsamen. Dies entwickelt sich jedoch als im Wesentlichen
kontraproduktiv, da die dickere Oxidschicht für sich von Natur aus weniger
wirksam als Adhäsionsverbesserung
ist. Andere Vorschläge,
die auf einer Optimierung der Press- und Aushärtbedingungen für das Zusammenfügen der
mehrschichtigen Zusammensetzung beruhen, waren von begrenztem Erfolg
begleitet.
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Andere
Lösungen
dieses Problems umfassen eine Nachbehandlung der Beschichtung aus
Kupferoxid zur Adhäsionsverbesserung
vor dem Zusammenfügen
der inneren Schaltkreisschichten und der Pre-preg-Schichten zu einer
mehrschichtigen Zusammensetzung. Beispielsweise beschreibt das US-Patent No.
4,775,444 von Cordani ein Verfahren, bei dem die Kupferoberflächen der
inneren Schaltkreisschichten zunächst
mit einer Kupferoxidbeschichtung versehen werden und dann, bevor
die inneren Schaltkreisschich ten in die mehrschichtige Anordnung
eingebaut werden, mit einer wässrigen
Chromsäure-Lösung versetzt
werden. Die Behandlung dient dazu, die Kupferoxidbeschichtung vor
dem Auflösen
im sauren Medium, dem sie in den nachfolgenden Schritten ausgesetzt
wird (z.B. Metallisierung der Durchlässe) zu stabilisieren und/oder
zu schützen,
wobei die Möglichkeiten
der rosa-Ring-Ablösungen verringert
werden.
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Die
US-Patente No. 4,642,161 von Akahoshi et al, No. 4,902,551 von Nakaso
et al und No 4,981,560 von Kajihara et al sowie eine Vielzahl von
Referenzen, die darin zitiert werden, beziehen sich auf Verfahren, bei
denen die Kupfer-Oberflächen
der inneren Schaltkreisschichten vor dem Einbau der inneren Schaltkreisschichten
in eine mehrschichtige Schaltkreisanordnung zunächst behandelt werden, um eine
Oberflächenbeschichtung
mit einem adhäsionsverbessernden
Kupferoxid bereitzustellen. Das so gebildete Kupferoxid wird dann
unter Einsatz besonderer Reduktionsmittel und -bedingungen zu metallischem
Kupfer reduziert. Konsequenterweise wird die mehrschichtige Anordnung,
die solche inneren Schaltkreisschichten verwendet, keine Bildung
von rosa Ringen zeigen, da kein Kupferoxid für eine örtliche Auflösung vorhanden
ist und in der anschließenden
Behandlung der Durchlässe
keine Freilegung von darunter liegendem Kupfer stattfindet. Wie auch
andere Techniken sind jedoch Verfahren dieses Typs fehlerverdächtig in
Bezug auf die zwischen den dielektrischen Substratschichten und
den inneren Schaltkreisschichten aus metallischem Kupfer erreichbaren Adhäsion. Dies
ist insbesondere bei derartigen Reduktionsprozessen so, da die bindende
Oberfläche
des Schaltkreises nicht allein aus metallischem Kupfer besteht,
sondern auch das metallische Kupfer in unterschiedlichen Phasen
aufweist (z.B., (1) Kupfer aus der Reduktion von Kupferoxid über (2)
Kupfer aus der Kupferschicht), die zur Trennung/Ablösung entlang
der Phasengrenzen neigen.
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Die
US-Patente Nos. 4,997,722 und 4,997,516 von Adler beinhalten eine ähnliche
Bildung von einer Kupferoxidbeschichtung der inneren Schaltkreisschichten,
gefolgt von einer Behandlung mit einer besonderen Reduktionslösung, um
das Kupferoxid zu metallischem Kupfer zu reduzieren. Es kann offensichtlich
passieren, dass bestimmte Bereiche des Kupferoxids nicht vollständig zu
metallischem Kupfer reduziert werden (stattdessen werden sie zu
wasserhaltigem Kupferoxid oder Kupferhydroxid reduziert) und diese
Verbindungen werden danach in einer nichtoxidierenden Säure, die
die Bereiche, die bereits zum metallischen Kupfer reduziert sind, nicht
angreift oder auflöst,
herausgelöst.
So gesehen wird die mehrschichtige Anordnung, die solche inneren Schaltkreisschichten
beinhaltet, keine Bildung von rosa Ringen zeigen, da kein Kupferoxid
für eine örtliche
Auflösung
vorhanden ist und keine Freilegung des darunter liegenden Kupfers
bei der anschließenden
Bearbeitung der Durchlässe
stattfindet. Hier wiederum können
jedoch Probleme hinsichtlich der Adhäsion zwischen den dielektrischen
Schichten und den inneren Schaltkreisschichten aus metallischem
Kupfer entstehen, erstens weil die bindende Oberfläche metallisches
Kupfer ist und zweitens weil das metallische Kupfer überwiegend
in unterschiedlichen Phasen vorliegt (z.B., (1) Kupfer aus der Reduktion
von Kupferoxid über
(2) Kupfer aus der Kupferschicht), eine Situation, die zu einer
Trennung/Ablösung
entlang der Phasengrenze führt.
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Das
US-Patent No. 5,289,630 von Ferrier et al, dessen Lehre in ihrer
Gesamtheit als Referenz hier einfließt, offenbart ein Verfahren,
bei dem eine Schicht aus Kupferoxid auf den Schaltkreiselementen
gebildet wird, gefolgt von einer kontrollierten Auflösung und
Entfernung eines wesentlichen Anteils des Kupferoxids auf eine Weise,
die die Topographie nicht nachteilig beeinflusst.
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Die
PCT-Anmeldung No. WO 96/19097 von McGrath (und das korrespondierende
US-Patent No. 5,800,859) beschreibt ein Verfahren zur Verbesserung
der Adhäsion
von polymeren Materialien auf einer Metalloberfläche. Das beschriebene Verfahren
umfasst die Umsetzung der Metalloberfläche mit einer adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung, die Wasserstoffperoxid, eine anorganische Säure, einen
Korrosionsschutzmittel und eine oberflächenaktive quarternäre Ammoniumverbindung
enthält.
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Das
US-Patent No. 5,869,130, das Ferrier erteilt wurde, beschreibt eine
Verfahren zur Behandlung von Metalloberflächen mit einer Zusammensetzung,
die ein Oxidierungsmittel, eine Säure, einen Korrosionsschutzmittel,
eine Quelle für
Halogenid-Ionen und wahlweise ein wasserlösliches Polymer enthält, um die
Adhäsion
von polymeren Materialien an der Metalloberfläche zu steigern.
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Die
EP-A-0 984 672 beschreibt ein Verfahren zur Behandlung von Metalloberflächen unter
Einsatz einer adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung, die Wasserstoffperoxid, eine anorganische Säure und
einen Korrosionsschutzmittel, wie z.B. Benzotriazol enthält.
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Die
US-A 6,054,061 beschreibt eine ähnliche
Zusammensetzung für
die Herstellung von Leiterplatten.
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Die
US-A 6,036,758 beschreibt eine ähnliche
Verbindung für
die Oberflächenbehandlung
von Kupfer.
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Die
WO-A 00/74451 umfasst Bereiche des Standes der Technik entsprechend
den Maßgaben
der Artikel 54(3) und (4) EPÜ und
beschreibt ein Verfahren zur Förderung
der Adhäsion
zwischen dem anorganischen Substrat und einem organischen Polymer,
das eine ähnliche
Zusammensetzung aufweist.
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Die
vorliegende Erfindung hat das Ziel, ein Verfahren zur Steigerung
der Adhäsion
eines polymeren Materials an einer Metalloberfläche, insbesondere Kupfer- oder
Kupferlegierungsoberflächen,
zur Verfügung zu
stellen.
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Zusammenfassung
der Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung stellt ein Verfahren zur Steigerung der Adhäsion eines
polymeren Materials an einer Metalloberfläche zur Verfügung, wobei
die Metalloberfläche
Kupfer umfasst, wobei das Verfahren umfasst: a) das Kontaktieren
der Metalloberfläche
mit einer adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung, umfassend: 1.) 2 bis 60 Gramm/Liter Wasserstoffperoxid;
2.) 5 bis 360 Gramm/Liter einer anorganischen Säure; 3.) 0.2 bis 20 Gramm/Liter
eines Korrosionsschutzmittels; 4.) ein Benzotriazol mit einer elektronenanziehenden Gruppe
in der 1-Position, wobei die elektronenanziehende Gruppe eine stärkere Elektronenanziehungskraft besitzt
als eine Wasserstoffgruppe; und 5.) wahlweise eine Quelle für Verbindungen
zur Verstärkung
der Adhäsion,
wobei die Verbindungen ausgewählt
sind aus der Gruppe, bestehend aus Molybdaten, Wolframaten, Tantalaten,
Niobaten, Vanadaten, Isopoly- oder Heteropolysäuren des Molybdäns, Wolframs,
Tantals, Niobs, Vanadins und Kombinationen irgendwelcher der vorgenannten
Verbindungen, und b) das Binden des polymeren Materials an der Metalloberfläche.
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Die
vorliegende Erfindung stellt auch eine Zusammensetzung zur Verfügung, die
geeignet ist für
die Behandlung von Metalloberflächen
vor dem Binden eines polymeren Materials an den Metalloberflächen, wobei
die Zusammensetzung umfasst: a) 2 bis 60 Gramm/Liter Wasserstoffperoxid;
b) 5 bis 360 g/Liter einer anorganischen Säure; c) ein Korrosionsschutzmittel;
d) ein Benzotriazol mit einer elektronenanziehenden Gruppe in der
1-Position, wobei
die elektronenanziehende Gruppe eine stärkere Elektronenanziehungskraft
besitzt als eine Wasserstoff-Gruppe; und e) wahlweise eine Quelle
für Verbindungen
zur Verstärkung
der Adhäsion,
wobei die Verbindungen ausgewählt
sind aus der Gruppe, bestehend aus Molybdaten, Wolframaten, Tantalaten, Niobaten,
Vanadaten, Isopoly- oder Heteropolysäuren des Molybdäns, Wolframs,
Tantals, Niobs, Vanadins und Kombinationen irgendwelcher der vorgenannten
Verbindungen.
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Das
hier vorgeschlagene Verfahren ist besonders geeignet für die Produktion
von mehrschichtigen bedruckten Schaltkreisen. Das hier vorgeschlagene
Verfahren liefert eine optimale Adhäsion zwischen der metallischen
und der polymeren Oberfläche
(d.h., die Schaltkreisschicht und die dazwischenliegende Isolationsschicht),
eliminiert oder minimiert rosa Ringe und arbeitet kostengünstig, immer
im Vergleich zu konventionellen Verfahren.
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Es
wurde gefunden, dass das vorgenannte Verfahren die Adhäsion von
Metalloberflächen
an polymeren Materialien verbessert, insbesondere wenn die Metalloberflächen Kupfer
und Kupferlegierungen umfassen. Das vorgeschlagene Verfahren ist
besonders geeignet für
die Herstellung von mehrschichtigen Leiterplatten.
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Ausführliche
Beschreibung der Erfindung
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Es
wurde gefunden, dass die Adhäsion
zwischen einer Metalloberfläche
und einem polymeren Material durch die Umsetzung der Metalloberfläche mit
einer adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung vor dem Binden des polymeren Materials an der Metalloberfläche verbessert
wird. Die Erfindung schlägt
daher ein Verfahren zur Steigerung der Adhäsion eines polymeren Materials
an einer Metalloberfläche
vor, wobei das Verfahren umfasst: ein Verfahren zur Steigerung der
Adhäsion
eines polymeren Materials an einer Metalloberfläche, wobei die Metallober fläche Kupfer
umfasst, wobei das Verfahren umfasst: a) das Kontaktieren der Metalloberfläche mit
einer adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung, umfassend: 1.) 2 bis 60 Gramm/Liter Wasserstoffperoxid;
2.) 5 bis 360 Gramm/Liter einer anorganischen Säure; 3.) 0.2 bis 20 Gramm/Liter
eines Korrosionsschutzmittels; 4.) ein Benzotriazol mit einer elektronenanziehenden
Gruppe in der 1-Position, wobei die elektronenanziehende Gruppe
eine stärkere
Elektronenanziehungskraft besitzt als eine Wasserstoffgruppe; und
5. wahlweise eine Quelle für
Verbindungen zur Verstärkung
der Adhäsion,
wobei die Verbindungen ausgewählt
sind aus der Gruppe, bestehend aus Molybdaten, Wolframaten, Tantalaten,
Niobaten, Vanadaten, Isopoly- oder Heteropolysäuren des Molybdäns, Wolframs,
Tantals, Niobs, Vanadins und Kombinationen irgendwelcher der vorgenannten
Verbindungen, und b) das Binden des polymeren Materials an der Metalloberfläche.
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Wahlweise
sind in der adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung auch ein wasserlösliches
Polymer und vorzugsweise eine Quelle für Halogenid-Ionen enthalten.
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Es
wurde gefunden, dass die vorgeschlagene adhäsionsverbessernde Zusammensetzung
eine aufgeraute beschichtete Oberfläche schafft. Die geschaffene
Oberfläche
ist dadurch, dass signifikant gesteigerte Adhäsionswerte im Vergleich zu
einer nichtbehandelten Metalloberfläche erreicht werden, besonders
geeignet für
die Bindung mit polymeren Materialien. Darüber hinaus behält die beschichtete
(behandelte) Metalloberfläche
die gesteigerte Adhäsion
im Zeitablauf und verringert die Wahrscheinlichkeit, dass irgendwelche
unerwünschten
Reaktionen im Laufe der Zeit zwischen dem Metall und dem polymeren
Material ablaufen.
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Das
vorgeschlagene Verfahren ist besonders geeignet, um mehrschichtige
bedruckte Schaltkreise herzustellen. So werden in dieser Anmeldung
die inneren Schaltkreisschichten aus Kupfermetall mit einer hierin
vorgeschlagenen adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung behandelt. Nach der Behandlung, gefolgt von einem
Spülen
mit Wasser, werden die inneren Schichten miteinander mit polymeren
Materialien, wie z.B. Pre-pregs oder bedruckbaren Nichtleitern,
verbunden, woraus ein mehrschichtiger bedruckter Schaltkreis resultiert.
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Die
mit der Zusammensetzung gemäß der vorliegenden
Erfindung zu behandelte Metalloberfläche kann eine Vielzahl von
Metallen, wie z.B. Kupfer, Kupferlegierungen, Nickel und Eisen,
umfassen. Jedoch umfassen bei einem bevorzugten Verfahren die Metalloberflächen bevorzugt
Kupfer und Kupferlegierungen. Das polymere Material kann eine Vielzahl
von polymeren Materialien umfassen, einschließlich Pre-preg-Materialien,
bedruckbare Nichtleiter, photographisch bedruckbare Harze, Lötmetallabdeckungen,
Klebstoffe oder polymere Ätzabdecklacke.
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Das
in der adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung eingesetzte Oxidationsmittel ist Wasserstoffperoxid,
das in der Matrix der adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung in der Lage ist, die Metalloberfläche zu oxidieren.
Die Konzentration des Wasserstoffperoxids in der adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung kann zwischen 2 bis 60 Gramm pro Liter betragen,
liegt jedoch vorzugsweise zwischen 3 und 30 Gramm pro Liter.
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Die
in der adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung eingesetzte anorganische Säure kann jede Säure sein,
die in der Matrix stabil ist, allerdings wurde gefunden, dass Mineralsäuren besonders
zu bevorzugen sind. Schwefelsäure
ist besonders bevorzugt. Die Konzentration der Säure in der adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung kann von 5 bis 360 Gramm pro Liter betragen, liegt
jedoch vorzugsweise zwischen 20 bis 110 Gramm pro Liter.
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Das
in der adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung eingesetzte Korrosionsschutzmittel ist eine Verbindung,
die wirksam mit der Metalloberfläche
reagiert, um eine schützende
Komplexschicht zu bilden. Bevorzugte Korrosionsschutzmittel sind
ausgewählt
aus der Gruppe, bestehend aus Triazolen, Benzotriazolen, Tetrazolen,
Imidazolen, Benzimidazolen und Mischungen aus den Vorgenannten.
Benzotriazole sind besonders bevorzugt. Die Konzentration des Korrosionsschutzmittels
in der adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung kann von 0.2 bis 20 Gramm pro Liter betragen, liegt
jedoch vorzugsweise zwischen 1 und 12 Gramm pro Liter.
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Es
wurde gefunden, dass die Zugabe von Benzotriazol mit einer elektronenanziehenden
Gruppe in der 1-Position, wobei die elektronenanziehende Gruppe
ein stärkerer
Elektronenakzeptor ist als eine Wasserstoff-Gruppe, Vorteile bringt
im Hinblick auf die Einheitlichkeit der erhaltenen Beschichtung
und der nach dem Binden erreichten Adhäsion. Es wurde gefunden, dass
die elektronenanziehende Gruppe vorzugsweise ausgewählt ist
aus der Gruppe, bestehend aus Hydroxy-Gruppen, Amino-Gruppen, Nitro-Gruppen,
Nitril-Gruppen, Sulfonat-Gruppen, Carboxylat-Gruppen, Halogenid-Gruppen, Mercaptan-Gruppen
und ungesättigten
Alkyl-Gruppen. Besonders bevorzugt handelt es sich bei der elektronenanziehenden
Gruppe um eine Hydroxy-Gruppe und somit ist der am meisten bevorzugte
Stoff in dieser Hinsicht 1-Hydroxybenzotriazol
mit der folgenden Struktur:
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Das
Korrosionsschutzmittel und das Benzotriazol mit einer elektronenanziehenden
Gruppe in der 1-Position können
beide ein und dieselbe Verbindung sein. Zum Beispiel kann 1-Hydroxybenzotriazol
sowohl die Rolle als Korrosionsschutz als auch die des Benzotriazols
mit der elektronenanziehenden Gruppe in der 1-Position erfüllen.
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Die
erreichbaren Vorteile beim Einsatz der vorgenannten Stoffe sind
am deutlichsten, wenn in der adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung eine Quelle für
adhäsionsverstärkende Verbindungen,
wie im Folgenden beschrieben wird, eingesetzt im Zusammenspiel mit
der vorgenannten Stoffen wird. Es wurde gefunden, dass die vorgeschlagene
Kombination Synergieeffekte hervorruft. Die Konzentration des Benzotriazols mit
der elektronenanziehenden Gruppe in der 1-Position kann von 0.2
g/l bis 20 g/l betragen, beträgt
jedoch vorteilhaft zwischen 0.5 g/l und 5 g/l.
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Die
Quelle für
adhäsionsverstärkende Verbindungen
kann irgendein Ausgangsstoff sein, der Verbindungen ausgewählt aus
der Gruppe, bestehend aus Molybdaten, Wolframaten, Tantalaten, Niobaten,
Vanadaten und Mischungen davon, für die adhäsionsverbessernde Zusammensetzung
liefert. Solche Quellen umfassen Alkalimetallsalze von Molybdaten,
Wolframaten, Tantalaten, Niobaten Vanadaten und Mischungen davon, wie
z.B. Natrium (oder Kalium)-Molybdat, -Wolframat, -Niobat, oder -Vanadat,
sowie Heteropolysäuren
oder Isopolysäuren
des Molybdäns,
Wolframs, Tantals, Niobs oder Vanadins. Somit sind Molybdate oder
Wolframate, die Heteroatome, wie z.B. Phosphor, Silizium, Kobalt,
Mangan und Wolfram enthalten, geeignet. Bevorzugte Quellen umfassen
Iso- und Heteropolysäuren
des Molybdäns,
Wolframs, Niobs, Vanadins und Mischungen davon, wie z.B. Molybdänsäure, Vanadinsäure und
Wolframsäure.
Die am meisten bevorzugte Quelle für eine adhäsionsverstärkende Verbindung ist Molybdänsäure. Die
Konzentration der adhäsionsverstärken den
Verbindung in einer adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung kann zwischen 1 mg/l und 500 mg/l betragen (basierend
auf dem adhäsionsverbessernden
Ionenanteil), liegt jedoch vorzugsweise zwischen 5 mg/l und 200 mg/l.
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Wahlweise
kann die adhäsionsverbessernde
Zusammensetzung auch ein wasserlösliches
Polymer enthalten. Wenn eines eingesetzt wird, handelt es sich bei
dem wasserlöslichen
Polymer vorzugsweise nicht um ein Benetzungsmittel oder Tensid,
sondern stattdessen um ein wasserlösliches Homopolymer oder Kopolymer
eines wasserlöslichen
Monomers mit einem niedrigen Molekulargewicht. Besonders bevorzugt
handelt es sich bei dem wasserlöslichen
Polymer um ein Polymer des Äthylenoxids,
Polyäthylenglykols,
Polypropylenglykols oder Polyvinylalkohols. Bei den besonders bevorzugten
handelt es sich Polymere des Äthylenoxids oder
Polyäthylenglykols,
vertrieben von der Firma Union Carbide unter dem Markenamen Carbowax
(eingetragene Marke). Es wurde gefunden, dass Carbowax 750 und Carbowax
MPEG 2000 besonders geeignet sind. Besonders geeignet sind auch
die Homopolymere des Äthylenoxids,
vertrieben von der Firma BASF unter dem Markennamen Pluronic (eingetragene
Marke). Die Konzentration des wasserlöslichen Polymers in der adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung kann zwischen 1 und 15 Gramm pro Liter betragen,
liegt jedoch vorteilhaft zwischen 3 und 6 Gramm pro Liter.
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Somit
sollte die adhäsionsverbessernde
Zusammensetzung eine anorganische Säure, Wasserstoffperoxid und
ein Korrosionsschutzmittel enthalten. Die Zusammensetzung umfasst
auch ein Benzotriazol mit einer elektronenanziehenden Gruppe in
der 1-Position,
wie hier beschrieben wird, oder das Korrosionsschutzmittel kann
Benzotriazol mit der elektronenanziehenden Gruppe in der 1-Position
sein. In jedem Fall enthält die
Zusammensetzung vorteilhaft auch adhäsionsverstärkende Verbindungen, wie hier
beschrieben wird, unabhängig
davon, ob das Benzotriazol mit der elektronenanziehenden Gruppe
in der 1-Position
eingesetzt wird oder nicht.
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Vorzugsweise
enthält
die adhäsionsverbessernde
Zusammensetzung auch eine Quelle für Halogenid-Ionen, wobei es
sich um Verbindungen handelt, die Halogenid-Ionen in die Matrix
der adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung liefern. Vorzugsweise sind die Quellen für Halogenid-Ionen
Alkalimetallsalze, wie z.B. Natriumchlorid, Kaliumchlorid, Oxidhalogenide,
wie z.B. Natriumchlorat oder Kaliumchlorat, oder Halogenid enthaltende
Mineralsäuren,
wie z.B. Salzsäure.
Vorzugsweise liefert die Quelle für Halogenid-Ionen Chlorid-Ionen
für die
adhäsionsverbessernde
Zusammensetzung, besonders bevorzugt liefert die Quelle für Halogenid-Ionen
Chlorat-Ionen für
die adhäsionsverbessernde
Zusammensetzung. Die Konzentration der Quelle für Halogenid-Ionen in der adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung beträgt
zwischen 5 und 500 Milligramm pro Liter, bevorzugt zwischen 10 und
50 Milligramm pro Liter, immer basierend auf den Halogenid-Gehalt.
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Die
Metalloberfläche
kann auf vielfältige
Weise mit der adhäsionsverbessernden
Zusammenssetzung behandelt werden, einschließlich Eintauchen, Besprühen und Übergießen. Die
Temperatur der adhäsionsverbessernden
Zusammensetzung kann während
der Behandlung zwischen 27°C
und 66°C
(80°F und
150°F) betragen,
liegt jedoch vorzugsweise zwischen 32°C und 49°C (90°F und 120°F). Die Behandlungszeit variiert
in Abhängigkeit
von der Temperatur und dem Behandlungsverfahren, kann jedoch zwischen
15 Sekunden und 15 Minuten betragen und liegt vorzugsweise bei 1
bis 2 Minuten.
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Die
folgenden Beispiele erläutern
die Erfindung.
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Der
folgende Zyklus wurde bei der Verarbeitung der mit Kupfer kaschierten
Platten und Kupferfolien in den folgenden Beispielen eingehalten:
| Zeit
min |
5%
Schwefelsäure
21°C (70°F) | 1 |
Spülen mit
kaltem Wasser | 1 |
Metex
Blech-Tauchreiniger S-426, 66°C
(150°F) | 2 |
Spülen mit
kaltem Wasser | 2 |
Vortauchen
(2 g/l Benzotriazol, 1 Vol.-% 50%iges H2O2), 21°C
(70°F) | 1 |
Testlösung | 1 |
Spülen mit
kaltem Wasser | 1 |
Trocknen
unter Zwangsbelüftung | 1 |
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Beispiele 1–15
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Es
wurde eine adhäsionsverbessernde
Basislösung
hergestellt, die 2 Vol.-% Schwefelsäure (98 Gew.-%), 0.75 Vol.-%
50 Gew.-%iges Wasserstoffperoxid,
4 g/l Benzotriazol und den Rest als Wasser enthält. Für jedes Muster wurde zu der
Basislösung
die Menge an Hydroxybenzotriazolhydrat und Molybdänsäure zugegeben,
die in der folgenden Tabelle I aufgeführt ist, und die Kupferfolien
und Platten wurden im oben beschriebenen Standardzyklus mit der
vorgegebenen Testlösung
bei den für
die jeweiligen Beispiele aufgezeigten Temperaturen verarbeitet.
Das für
jedes Beispiel erhaltene Erscheinungsbild ist in der folgenden Tabelle
1 festgehalten. Beispiel 1 ist ein Vergleichsbeispiel, das nicht
der vorliegenden Erfindung entspricht.
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Nach
der Bearbeitung wurden die Platten und Folien für 30 Minuten bei 110°C (230°F) gebrannt,
dann bei 177°C
(350°F)
und 1.4 × 106 N/m2 (200 pounds
per square inch) Druck für
45 Minuten mit NELCO (eingetragene Marke) N4205-2B Phase (FR-4)
(erhältlich
von der Firma NELCO) kaschiert. Die B-Phase bestand aus einer Scheibe
aus 7628 Glas, eingelagert zwischen zwei Scheiben aus 1080 Glas.
Anschließend
an die Kaschierung wurden die Platten bedruckt, um 2.54 cm (ein
inch) breite Streifen auszubilden und der Überschuss an Kupfer wurde ent fernt.
Die in Streifen geformte Platten wurden für 2 Stunden bei 110°C (230°F) gebrannt, dann
für null,
zehn und 20 Sekunden in 288°C
(550°F)
heißes
Lötmetall
getaucht. Die Stärke
der Bindung zwischen Kupfer und Harz wurde durch Ablösen der
Folienstreifen vom Harz gemessen und die Ergebnisse sind in der
folgenden Tabelle II aufgeführt.
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Die
Beispiele zeigen klar die mit dem erfindungsgemäßen Verfahren erreichbaren
Vorteile in Bezug auf Aussehen und Adhäsion.
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Beispiel 16
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Beispiel
16 ist ein Vergleichbeispiel, das nicht der vorliegenden Erfindung
entspricht.
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Das
Beispiel 1 wurde wiederholt mit der Ausnahme, dass in diesem Fall
die Konzentration des Benzotriazols in der Testlösung von 4 g/l auf 7 g/l erhöht wurde.
Wie in Beispiel 1 wurde kein 1-Hydroxybenzotriazol oder Molybdänsäure eingesetzt.
Das Ergebnis war ein einheitliches rosa Aussehen. Die erreichte
Ablösefestigkeit
betrug 0.5 kg/cm (2.8 lb/in), 0.45 kg/cm (2.5 lb/in) und 0.45 kg/cm
(2.5 lb/in) für
0 Sekunden, 10 Sekunden bzw. 20 Sekunden in 288°C (550°F) heißem Lötmetall.
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Beispiel 17
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Beispiel
17 ist ein Vergleichsbeispiel, das nicht der vorliegenden Erfindung
entspricht.
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Eine
Lösung
zur Behandlung von Kupfer, bestehend aus 4.6 Vol.-Schwefelsäure, 2.8
Vol.-% 50%iges Wasserstoffperoxid, 6.3 g/l Benzotriazol, etwa 15
mg/l Natriumchlorid, etwa 1 g/l Carbowax MPEG 2000 Polyäthylenoxid
und 21.6 g/l Kupferionen (um eine gealterte oder gebrauchte adhäsionsverbessernde
Zusammensetzung zu simulieren, wenn z.B. die adhäsionsverbessernde Zusammensetzung
im Zusammenhang mit Kupferoberflächen
eingesetzt wird, bilden sich Kupferionen in der Lösung) wurde
auf etwa 35°C
(95°F) erwärmt. Eine
frische Vortauchlösung,
bestehend aus 2 g/l Benzotriazol und 2 Vol.-% 50%igem Wasserstoffperoxid
wurde hergestellt. Eine mit Kupfer kaschierte Harzplatte von etwa
3.81 cm (1.5 inches) Breite bei einer Höhe von 7.62 cm (3 inches) wurde
gewogen und dem folgenden Behandlungszyklus unterworfen:
Metex
9271 Säurereiniger,
10% 52°C
(125°F) | 2
Minuten |
Abspülen mit
kaltem Wasser | 2
Minuten |
Vortauchen,
Zimmertemperatur | 1
Minute |
Lösung zur
Behandlung von Kupfer, 35°C
(95°F) | 1
Minute |
Abspülen mit
kaltem Wasser | 1
Minute |
Trocknen
unter Zwangsbelüftung | |
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Nach
der Behandlung hatte die Platte ein violett trübes Oberflächenerscheinungsbild. Die Platte
wurde gewogen und die ungefähre
Dicke des von der Oberfläche
entfernten Kupfers wurde aus dem Gewichtsverlust berechnet. Eine
mit Kupfer kaschierte Harzplatte und eine Kupferfolie von 28 g (eine
Unze) Dicke wurden dann der gleichen Prozedur unterworfen. 50 mg/l
Molybdänsäure wurden
dann zu der Lösung
zur Behandlung von Kupfer zugegeben und das Experiment wurde wiederholt.
Weitere Zugaben von 50 mg/l Molybdänsäure wurden bis zu einer Gesamtzugabe
von 150 g/l gemacht, wobei die entsprechenden Experimente nach jeder
Zugabe durchgeführt
wurden. Die entsprechenden Kernstücke und Folien wurden mit Nelco
4205 Glas/Epoxy B-Phase zusammengeschichtet. Nach der Beschichtung
wurden die Platten geätzt,
um 2.54 cm (ein inch) breite Streifen auf der Folienseite zu ergeben,
dann gebrannt und in Zinn/Blei-Lötmetall
bei 288°C
(550°F)
für null, zehn
und zwanzig Sekunden eingetaucht. Die Ablösefestigkeiten wurde bei jeder
Platte nach dem Eintauchen in das Lötmetall gemessen. Es wurden
die folgenden Ergebnisse erhalten:
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Steigende
Molybdänsäure-Konzentration
liefert in diesem System klar einen Anstieg in der Kupfer/Harz-Ablösefestigkeit
sowohl unter ungeätzten
Bedingungen als auch unter den mit Lötmetall belasteten Bedingungen.
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Beispiel 18
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Beispiel
18 ist ein Vergleichsbeispiel, das nicht der vorliegenden Erfindung
entspricht.
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Es
wurde eine Lösung
zur Behandlung von Kupfer vorbereitet, die etwa 3 Vol.-% Schwefelsäure, 0.75 Vol.-%
50%iges Wasserstoffperoxid, 8 g/l Benzotriazol und 30 mg/l Kaliumchlorat
enthält.
Es wurde ein Vortauchlösung
mit 2 g/l Benzotriazol und 1 Vol.-% 50%igem Wasserstoffperoxid vorbereitet.
Die Platten, Kernstücke
und Folien wurden den Ätzungsbedingungen
des Zyklus aus Beispiel 1 unterworfen, wobei das vorliegende Behandlungs-
und Vortauchbad jeweils das in Beispiel 1 verwendete Behandlungs-
und Vortauchbad ersetzte. Die Versuchsreihen wurden bei Badtemperaturen
für die
Behandlung von etwa 38°C
(100°F)
durchgeführt.
Dann wurde eine Zugabe von 10 mg/l Molybdänsäure zum Behandlungsbad vorgenommen
und die Versuche wurden wiederholt. Nach der Behandlung wurden die
Platten und Folien wie in Beispiel 1 laminiert, geätzt, gebrannt
und in Lötmetall
eingetaucht. Es wurden die folgenden Ergebnisse beobachtet:
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Es
ist wieder klar zu erkennen, dass die Zugabe von Molybdat-Ionen zur Lösung für die Behandlung von
Kupfer eine Verbesserung der Bindung des Kupfers an das Harz mit
sich bringt.